半導(dǎo)體器件在電應(yīng)力激發(fā)條件下，內(nèi)部載流子發(fā)生能級躍遷會伴有一定的光子發(fā)射，產(chǎn)生光輻射現(xiàn)象，EMMI就是對這些光輻射現(xiàn)象進(jìn)行顯微探測的技術(shù)。通過對發(fā)光點(diǎn)的分析，可以定位到器件失效部位。美信檢測將于8月15日（下周一）開展線上技術(shù)交流會，分享半導(dǎo)體器件的典型失效類型、EMMI 的工作原理與典型應(yīng)用，解決芯片功能失效分析的缺陷定位問題！

本期分享：EMMI缺陷定位方法在芯片失效分析中的應(yīng)用

課程大綱

1. 半導(dǎo)體器件發(fā)光機(jī)理與典型缺陷發(fā)光類型

2. EMMI的基本原理

3. EMMI的典型應(yīng)用

4. 典型案例分享

講師介紹

崔風(fēng)洲，美信檢測半導(dǎo)體事業(yè)部總經(jīng)理。全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會委員、中國機(jī)械工程學(xué)會失效分析分會失效分析專家、IPC620專家組成員 、首席IC故障分析專家。具有15年以上的規(guī)模集成電路分析經(jīng)驗(yàn)，先后在多家跨國公司從事IC設(shè)計(jì)、封裝生成、成品組裝后失效分析和技術(shù)管理工作，尤其擅長芯片功能失效的定位，故障激發(fā)方法的設(shè)計(jì)，對各種失效模式和機(jī)理有其深刻的見解。

會議詳情

時(shí)間：2022年8月15日 15:00

形式：直播互動，提供回看，請務(wù)必加入交流群！課程限時(shí)免費(fèi)，同行莫入！

公眾號后臺回復(fù)“123”免費(fèi)獲取聽課和入群資格！

長按識別二維碼回復(fù)：123