參會邀請 | 功能失效芯片的缺陷定位方法
2022-07-13 瀏覽量:256
為助力高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)發(fā)展,提升企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量管控能力,美信檢測將于2022年7月28日參加由雅時國際商訊主辦的“現(xiàn)代檢測技術(shù)的創(chuàng)新發(fā)展與機(jī)遇”技術(shù)研討會。美信檢測半導(dǎo)體事業(yè)部總經(jīng)理崔風(fēng)洲將針對市場需求與行業(yè)發(fā)展要求,從檢測角度出發(fā),與企業(yè)分享美信在業(yè)內(nèi)的失效分析技術(shù)經(jīng)驗。
會議詳情
會議時間:2022年7月28日
會議形式:線上直播
報名方式:掃描下方二維碼免費(fèi)報名參會
會議議程
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