集成電路失效分析技術(shù)與器件替換檢驗(yàn)參數(shù)注意事項(xiàng)
我國(guó)航空航天的蓬勃發(fā)展,汽車也向電動(dòng)化的趨勢(shì)不斷探索,5G時(shí)代的到來(lái),如何確保在各種復(fù)雜環(huán)境都能保證穩(wěn)定運(yùn)行,這都對(duì)新一代集成電路提出了更高的要求。因此必須在芯片量產(chǎn)之前與量產(chǎn)過(guò)程中對(duì)其進(jìn)行嚴(yán)格的驗(yàn)證測(cè)試。
為促進(jìn)電子行業(yè)的技術(shù)發(fā)展,提升產(chǎn)品質(zhì)量管控,深圳市美信檢測(cè)技術(shù)股份有限公司聯(lián)合儀器信息網(wǎng)將于2022年5月20日(本周五)舉辦“集成電路檢測(cè)與測(cè)試技術(shù)及應(yīng)用”主題網(wǎng)絡(luò)研討會(huì),并在會(huì)上作出報(bào)告,與企業(yè)分享美信在業(yè)內(nèi)的失效分析技術(shù)經(jīng)驗(yàn),為廣大集成電路材料行業(yè)用戶、檢測(cè)人員和相關(guān)學(xué)者提供一個(gè)線上近距離交流平臺(tái)。
會(huì)議詳情
主辦單位:儀器信息網(wǎng) 深圳市美信檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
會(huì)議時(shí)間:2022年5月20日 09:00 - 11:30
會(huì)議形式:線上直播
報(bào)名方式:掃描下方二維碼進(jìn)行報(bào)名(免費(fèi))
會(huì)議議題
1、檢測(cè)和測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用對(duì)于集成電路新產(chǎn)品導(dǎo)入NPI的意義
2、集成電路器件替換檢驗(yàn)參數(shù)注意事項(xiàng)
3、集成電路失效分析技術(shù)
4、半導(dǎo)體集成電路制造中顯微鏡的應(yīng)用
5、集成電路芯片測(cè)試的自動(dòng)化智能化產(chǎn)業(yè)應(yīng)用
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