2016年11月3-5日，第十三屆“中國(guó)光谷”國(guó)際光電子博覽會(huì)暨論壇（簡(jiǎn)稱“光博會(huì)”）將于武漢國(guó)際博覽中心盛大開幕，光博會(huì)由國(guó)家九部委和湖北省政府聯(lián)合主辦，創(chuàng)辦至今已成功舉辦十二屆，累計(jì)全球30多個(gè)國(guó)家和地區(qū)的4500余家知名企業(yè)參展，35萬多專業(yè)觀眾參觀，舉辦120多場(chǎng)論壇。

美信檢測(cè)長(zhǎng)期致力于電子電器行業(yè)的技術(shù)檢測(cè)，受邀參加該展會(huì)，同時(shí)也為即將蒞臨展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)的專業(yè)觀眾準(zhǔn)備了諸多個(gè)驚喜，與各位技術(shù)大咖們共享高端技術(shù)的饕餮盛宴。展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)，美信檢測(cè)將為您展示：

電子產(chǎn)品失效分析

項(xiàng)目介紹：失效分析對(duì)產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義，失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個(gè)階段，發(fā)生在產(chǎn)品研制階段、生產(chǎn)階段到使用階段的各個(gè)環(huán)節(jié)，通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗(yàn)失效、中試失效以及現(xiàn)場(chǎng)失效的失效產(chǎn)品明確失效模式、分析失效機(jī)理，最終明確失效原因。

資質(zhì)證書：中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)失效分析分會(huì)網(wǎng)點(diǎn)單位

檢測(cè)項(xiàng)目：PCB/PCBA失效分析、電子元器件失效分析、金屬材料及零部件失效分析、高分子材料失效分析、復(fù)合材料失效分析、涂/鍍層失效分析。

PCB爆板	PCB電化學(xué)遷移
光耦缺陷分析	PCB界面分層失效

電子產(chǎn)品全面解決方案

項(xiàng)目介紹：美信檢測(cè)專業(yè)技術(shù)工程師在電子元器件、光電器件領(lǐng)域擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)，在產(chǎn)品的的質(zhì)量評(píng)價(jià)、失效分析等方面積累了大量的實(shí)際案例，可針對(duì)客戶在研發(fā)、認(rèn)證、生產(chǎn)及客服投訴等不同階段提供不同的解決方案，使客戶可以快速解決問題，搶占市場(chǎng)先機(jī)。

檢測(cè)項(xiàng)目：PCB/PCBA全面解決方案、LED全面解決方案、新材料、汽車材料、航空材料。

PCB-BGA焊球開路	PCB上錫不良
LED基板蝕刻線路開路	LED綁定點(diǎn)開裂

三維X射線掃描（CT掃描）

項(xiàng)目介紹：CT是采用機(jī)算計(jì)斷層掃描技術(shù)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無損檢測(cè) （NDT）和無損評(píng)價(jià)（NDE）的便捷手段。利用斷層成像技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化測(cè)量、組裝瑕疵或材料分析。CT掃描取代傳統(tǒng)的破壞性監(jiān)測(cè)和分析，任何方向上的非破壞性切片和成像，不受周圍細(xì)節(jié)特征的遮擋，可直接獲得目標(biāo)特征的空間位置、形狀及尺寸信息。

檢測(cè)項(xiàng)目：缺陷分析、尺寸測(cè)量、逆向工程、數(shù)模比對(duì)

PCB-BGA焊球開路	PCB上錫不良
LED基板蝕刻線路開路	LED綁定點(diǎn)開裂

美信檢測(cè)非常感謝長(zhǎng)期以來每一位客戶的支持與關(guān)注，在此誠(chéng)邀您蒞臨我司展位參觀洽談。

福利來襲

1.來了就送精美禮品；

2.展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)精彩活動(dòng)，技術(shù)搭配娛樂，您的不二選擇；

3.2016行業(yè)經(jīng)典案例解析期刊，技術(shù)大咖的掌上資料庫(kù)，您值得擁有。

*** 結(jié)束 ***

MTT（美信檢測(cè)）是一家從事材料及零部件品質(zhì)檢驗(yàn)、鑒定、認(rèn)證及失效分析服務(wù)的第三方實(shí)驗(yàn)室，網(wǎng)址：m.tywhcyw.com.cn，聯(lián)系電話：400-850-4050。